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Académicos visitantes presentaron resultados de investigaciones a estudiantes de Ingeniería Civil Electrónica

Destacados Académicos de Chile y Alemania realizaron exposiciones dirigidas a estudiantes y profesores de Ingeniería Civil Electrónica, las que fueron organizadas por la académica del Instituto de Electricidad y Electrónica de la Facultad de Cs. de la Ingeniería, Isabel Miranda.

Consideramos importante que “nuestros académicos y estudiantes conozcan el nivel de desarrollo tecnológico en otras universidades tanto chilenas como en el extranjero y por esta razón que programamos estos ciclos y pretendemos seguir haciéndolo” explicó la Prof. Miranda.

El Dr. Jorge Ardila Rey, Académico del Departamento de Ingeniería Eléctrica de la Universidad Técnica Federico Santa María de Santiago, fue el primer expositor de la mañana quien presentó el tema “A new monitoring and characterization system of partial discharges based on the analysis of the spectral power”.

El académico explicó que una de las principales causas de fallas en equipos de generación y transmisión en alta tensión son las descargas parciales que producen arcos eléctricos que pueden llegar a destruir los equipos. “El método descrito permite monitorear el comportamiento de estas descargas para realizar acciones de mantenimiento preventivo y correctivo en forma oportuna e impedir que se produzcan daños mayores en los equipos” señaló.

Los métodos utilizan combinaciones de un sencillo circuito eléctrico con software de análisis, así como la utilización de antenas para captar señales de alta frecuencias producidas en el fenómeno y mediante un análisis espectral de estas señales determinar la cuantía de la descarga.

La segunda exposición estuvo a cargo del Dr. Carlos Fhürop, Académico e Investigador Asociado (Postdoc) Instituto para la Producción e Innovación (PPI). Leuphana Universität Lüneburg, Alemania, quien se refirió a “Control Adaptativo Q de la Dinámica no Lineal del Sistema Viga Voladiza-Muestra de un Microscopio de Fuerza Atómica”

La exposición del Dr. Fhürop se refirió a los microscopios de fuerza atómica, dispositivos fundamentales para la observación nanométrica, por lo que son instrumentos imprescindibles para el desarrollo de estructuras nanométricas. Su principio básico de funcionamiento es por el contacto de una aguja de tamaño nanométrico con la superficie del cuerpo a observar.

“El mecanismo que hace que la aguja esté en contacto y reciba las vibraciones en los tres ejes X,Y,Z, para determinar la forma, es semejante a una viga en voladizo, por lo que estará sometida a una serie de fuerzas que deben ser controladas para obtener una respuesta óptima. El sistema descrito permite llegar a formular un modelo de un controlador Adaptativo Q para permitir que la viga responda a los requerimientos de fuerzas que permitan obtener la toma de datos con el menor error posible, considerando las dimensiones en las que se está manipulando el objeto”, señaló el académico.

Las charlas se desarrollaron en la sala 7201 del edificio multimedia de la Facultad de Ciencias de la Ingeniería, el día jueves 19 de octubre entre las 9:00 y las 13:00 hrs.

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